к.т.н., доцент

Основные научные интересы: релаксационная спектроскопия глубоких уровней в полупроводниковых барьерных структурах; методики определения параметров глубоких центров.

Проводит лекционные, практические и лабораторные занятия по дисциплинам:

• Материалы микро- и наносистемной техники.
• Процессы микро- и нанотехнологии.
• Электротехническое и конструкционное материаловедение.
• Радиоматериалы и радиокомпоненты.
• Аналитические методы и приборы экологического контроля.
• Технология конструкционных материалов.
• Материалы электронной техники.

Специальность: высшее образование по специальности «Полупроводники и диэлектрики», специализация «Микроэлектроника», квалификация инженер электронной техники.

Повышение квалификации:

• «Мастер по созданию тестов в СДО Moodle», 36 часов, Частное профессиональное образовательное учреждение "Центр профессионального и дополнительного образования ЛАНЬ", ноябрь 2021 г., удостоверение №782415391353 от 09.11.21
• «Основы организации информационной безопасности и защиты информации в условиях цифровизации высшего образования», 72 часа, (ПензГТУ) ФГБОУ "Пензенский государственный технологический университет", с 05.12.2022 по 23.12.2022 г., удостоверение №582417002267 от 23.12.2022

Стаж работы по специальности  с 1983 г.

Наиболее значимые публикации: 

1. Oreshkin P.T., Scrap A.Y., Zubkov M.V., Patrin S.V.Long-term relaxation of nonequilibrium conductivity in superficial and barrier structures of semiconductors. Физика и техника полупроводников. 1984. Т. 18. № 8. С. 1503.
2. Зубков М.В. Определение концентрации глубоких центров с учетом полевой зависимости времени релаксации тока. Электронная техника. Серия 3: Микро- и наноэлектроника. 1989. № 6. С. 42.
3. Орешкин П.Т., Зубков М.В., Холомина Т.А. Релаксационная спектроскопия глубоких уровней в полупроводниках. Электронная техника. Серия 3: Микро- и наноэлектроника. 1992. № 2. С. 3.
4. Трубицын А.А., Брыков А.В., Зубков М.В., Смольников Е.В. Деконволюция масс-спектров. Вестник Рязанской государственной радиотехнической академии. 2006. № 18. С. 102-104.
5. Корытчинков Д.Е., Трубицын А.А., Дягилев А.А., Зубков М.В. Численное моделирование магнитного поля соленоида. Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. 2008. № 25. С. 49-52.
6. Гудзев В.В., Литвинов В.Г., Зубков М.В., Клочков А.Я. Глубокие уровни в диодах шоттки на основе силицида платины. Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. 2008. № 25. С. 76-80.
7. Холомина Т.А., Зубков М.В., Кострюков С.А., Гудзев В.В. Активационно-дрейфовая модель п.т. орешкина - основа изучения параметров глубоких центров в барьерных структурах. Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. 2009. № S30. С. 34-39.
8. Вишняков Н.В., Гудзев В.В., Зубков М.В., Литвинов В.Г. Способ определения энергии ионизации глубоких уровней в полупроводниковых барьерных структурах и устройство для его осуществления. Патент на изобретение RUS 2431216 15.06.2010.
9. Гудзев В.В., Зубков М.В., Юлкин А.В. Программно-аналитическая база данных релаксационной спектроскопии глубоких уровней. Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. 2011. № 36. С. 75.
10. Гудзев В.В., Зубков М.В., Литвинов В.Г. Особенности определения энергии ионизации равномерно распределенных дефектов в полупроводниковых барьерных структурах. Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. 2012. № 40. С. 75-79.
11. Гудзев В.В., Литвинов В.Г., Зубков М.В. Автоматизированный измерительно-аналитический комплекс релаксационной спектроскопии глубоких уровней. Вестник Рязанского государственного университета им. С.А. Есенина. 2012. № 34. С. 157-166.
12. Зубков М.В., Мальченко С.И., Шилин А.В. Разработка макета виртуального прибора экологического мониторинга для измерения влажности почвы и смесей в среде инженерного программирования Lab View. Методы обучения и организация учебного процесса в вузе Материалы IV Всероссийской научно-методической конференции. 2015. С. 321-323.
13. Зубков М.В., Шилин А.В. Использование метода атомно-абсорбционной спектроскопии для определения тяжелых металлов. Обеспечение комплексной безопасности предприятий: проблемы и решения сборник тезисов докладов IV международной научно-практической конференции. 2015. С. 40-41.
14. Зубков М.В., Шилин А.В. Разработка алгоритма работы блока атомарно-абсорбционной спектроскопии. Обеспечение комплексной безопасности предприятий: проблемы и решения сборник тезисов докладов IV международной научно-практической конференции. 2015. С. 42-43.
15. Гудзев В.В., Зубков М.В., Кусакин Д.С., Литвинов В.Г. Способ определения энергии ионизации равномерно распределенных дефектов с глубокими уровнями в полупроводниковых барьерных структурах с неоднородным легированием базы. Вестник Рязанского государственного радиотехнического университета. 2015. № 52. С. 163-168.
16. Мальченко С.И., Холомина Т.А., Шилин А.В., Зубков М.В. Применение современных информационных технологий в лабораторных практикумах кафедры микро-и наноэлектроники РГРТУ. Современные технологии в науке и образовании – СТНО-2016 сб. тр. междунар. науч.-техн. и науч.-метод. конф.: в 4 томах. Рязанский государственный радиотехнический университет ; под общ. ред. О.В. Миловзорова. 2016. С. 230-239.
17. Логвин А.В., Зубков М.В. Моделирование релаксационных процессов в микро- и наноструктурах // Современные технологии в науке и образовании - СТНО-2018. Сборник трудов международного научно-технического форума: в 11 томах. Под общ. ред. О.В. Миловзорова. 2018. С. 103-105.
18. Левин А.М., Клочков А.Я., Зубков М.В., Левина Т.А. Анализ инно легированного эпитаксиального кремния методом модуляции длины волны // Труды X Всероссийской школы-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по направлению "Диагностика наноматериалов и наноструктур". Сборник трудов. 2018. С. 116-120.
19. Гришин Н.Е., Зубков М.В. Методические особенности определения концентрации глубоких центров по спектрам токовой РСГУ в полупроводниковых барьерных структурах // Современные технологии в науке и образовании - СТНО-2020. Сборник трудов III Международного научно-технического форума : в 10 т.. Рязань, 2020. С. 100-104.
20. Gudzev V.V., Litvinov V.G., Mishustin V.G., Maslov A.D., Zubkov M.V. Experimental equipment to investigate deep energy levels in semiconductor barrier structures with high leakage current // 13th International Conference ELEKTRO 2020, ELEKTRO 2020 - Proceedings. 13. 2020. С. 9130257.