Оборудование

Атомно-абсорбционный спектрометр ContrAA-600 (AnalytikJena)

Атомно-абсорбционный спектрометр ContrAA-600 (AnalytikJena) - спектрометр использующий источник света сплошного спектра. Прибор позволяет определять элементы от Na до U за один аналитический цикл.
ContrAA-600 - ААС с электротермической и гидридной техникой атомизации.
Уникальные особенности прибора:
Один источник света на все элементы;
Последовательный мультиэлементный анализ;
Коррекция фона одновременно с измерением аналитического сигнала;
Высокая производительность;
Простота и удобство использования;
Встроенная библиотека методик анализа;
Системы автоматической подготовки и подачи проб;
Прямой анализ твёрдых проб без предварительной пробоподготовки;
Трёхмерное изображениеспектральных линий.

Читать дальше

Рентгеновский энергодисперсионный спектрометр ARL QUANT\'X

Рентгеновский энергодисперсионный спектрометр ARL QUANT'X-анализатор химического состава, предназначенный для решения широкого круга аналитических задач в науке и в производстве

Экспрессный элементный анализ в диапазоне элементов от Na до U

Чувствительность от 1 ppm

Время измерения одного элемента от 1 минуты до нескольких часов

Множество опций ввода образца

Различные формы и размеры анализируемых образцов

Оптический металлографический прямой микроскоп Альтами МЕТ 5

Увеличение до 2000х без иммерсионного масла

Возможность точного позиционирования образца

Исследование прозрачных и непрозрачных образцов без покровных стекол

Получение цветных цифровых изображений с разрешением 3 Мпикс

Проведение точных измерений наблюдаемых объектов

Составление детального отчета
 
Позволяет получать оптическую картину образцов в проходящем, отраженном и поляризованном свете. Увеличение до 2000х. Исследование прозрачных и непрозрачных образцов без покровных стекол. Получение цветных цифровых изображений с разрешением 3 Мпикс.
Читать дальше

Энергодисперсионная приставка-микроанализатор INCA X-MAX

- Энергодисперсионная приставка-микроанализатор INCA X-MAX (OxfordInstruments)позволяет проводить микроанализ, строить профили состава и карты распределения элементов. Качественный и количественный анализ (с точностью до 0.1 %) в точке, вдоль линии, картирование (от B до U).

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV позволяет исследовать различные объекты в различных типах сигналов (отраженные электроны, вторичные электроны) с увеличением от х30 до х300 000 и пространственным разрешением до 3 нм в режиме высокого вакуума

   

Области применения оборудования:

Сталь, чугун, цветные металлы
Металлургические шлаки
Руды
Цемент, сырьевые материалы
Нефтепродукты, примеси металлов в следствии износа
Криминалистика
Научные исследования
Контроль толщины покрытий
Контроль продуктов питания
Полупроводники и магнитные носители
Аэрозольные частицы на фильтрах
Соответствие стандартам RoHS и WEEE